®EC-CO-AR-D115
1.15Заявлений n за 550 nm
Склад-кандидат із низьким індексом · n 1.15
Заявлена мутність становить 0.02% за товщини плівки приблизно 1 μm. Підтвердьте оптичні характеристики за передбаченої робочої товщини.
Запит на технічний розгляд ↗Розроблення просвітлювальних покриттів
Низькоіндексні покриття для рідинного нанесення
ECLEAR представляє два рідкі склади-кандидати для оцінювання просвітлювальних покриттів, нанесених рідинним методом. Різні заявлені показники заломлення затверділої плівки дають змогу досліджувати матеріали й конструкцію шарів на сумісній підкладці у складі повної оптичної структури.
Оцінювання на стадії розроблення
D115 і D125 — запропоновані ECLEAR позначення окремих складів-кандидатів для розроблення, а не випущені комерційні марки. Придатність для процесу замовника потребує підтвердження.
EC-CO-AR-D125
1.25Заявлений n за 550 nm
Склад-кандидат із низьким індексом · n 1.25
Заявлена мутність становить 2.0% за товщини плівки приблизно 1 μm. Оптична прозорість потребує особливої уваги; це не підтверджує функції зменшення відблисків шляхом розсіювання.
Запит на технічний розгляд ↗Порівняйте два варіанти для розроблення
Дані зразків, наведені джерелом, від 09 вересня 2026 року. Ці значення не є результатами перевірки ECLEAR або приймальними межами для партій.
| Властивість / заявлена умова | EC-CO-AR-D115 | EC-CO-AR-D125 |
|---|---|---|
| Показник заломлення затверділої плівки n · 550 nm | 1.15 | 1.25 |
| В'язкість | 2.0 cP | 2.5 cP |
| Вміст сухого залишку | 6.4% | 14% |
| Мутність · плівка приблизно 1 μm | 0.02% | 2.0% |
| Товщина плівки для еліпсометричного вимірювання | 1.01 μm | 1.01 μm |
| Коефіцієнт екстинкції k · 550 nm | 0.0000 | 0.0000 |
| Лабораторні умови затвердіння | 230°C × 30 min | 230°C × 30 min |
| Температура зберігання | 4–10°C | 4–10°C |
| Тривалість зберігання | 3 місяці | 3 місяці |
- Показник заломлення, k і товщину плівки наведено за даними еліпсометрії. Плівка 1.01 μm — вимірювальний зразок, а не рекомендована товщина просвітлювального покриття. Указане значення k застосовне лише за 550 nm та із заявленою точністю.
- В'язкість: Brookfield; температуру й налаштування не зазначено. Сухий залишок: метод втрати маси під час нагрівання; основа обчислення відсоткового вмісту та процедура потребують підтвердження. Мутність: Nippon Denshoku COH 5500; підкладку, еталон і стандарт не зазначено.
- Початкову точку відліку тривалості зберігання та умови пакування не зазначено. Перед роботою підтвердьте строк придатності конкретної партії, умови транспортування та застосовний паспорт безпеки SDS.
Нижчий показник заломлення не означає автоматично нижчого відбиття. Специфікацій щодо відбиття або абсолютного пропускання не задано. Для жодного складу-кандидата не підтверджено характеристик твердості, гідрофобності або захисту від відбитків пальців.
01
Доберіть покриття до підкладки
Для початкового відбору можна розглядати скло або інші підкладки з підтвердженою стійкістю до обраного процесу. Плівки PET для дисплеїв залишаються напрямом розроблення. Придатність для PET, PC, PMMA та наявних зміцнювальних покриттів не встановлена.
Визначте програму технічного оцінювання
Визначте оптичну структуру
Повідомте підкладку, наявні покриття, діапазон довжин хвиль, передбачену товщину сухої плівки та цільові оптичні характеристики.
Узгодьте умови випробувань
Розгляньте обладнання для нанесення й обмеження затвердіння. Розбавлення, розчинник, фільтрація, життєздатність складу та діапазони швидкості нанесення не підтверджені наявними даними.
Виміряйте виріб із покриттям
Підтвердьте відбиття, пропускання, мутність, адгезію та стійкість для конкретного застосування за фактичної товщини й у повній структурі.
TDS-AR-01 · Редакція 0.1 · 09 вересня 2026
Попередні технічні дані
Технічний опис TDS англійською мовою охоплює обидва склади-кандидати, заявлені властивості, обмеження процесу та сферу оцінювання застосування.
Завантажити попередній TDS · англійською (Word) ↓Запит на технічний розгляд
Укажіть у запиті обраний варіант для розроблення, підкладку, передбачену товщину покриття, обмеження затвердіння та вимоги до стійкості.
Запит на технічний розгляд ↗